SURTRONIC S116 粗糙度仪 英国泰勒 霍普森 便携式粗糙度仪

概述：Surtronic S100系列是超强耐用的便携式表面粗糙度测量仪，适用于车间、工业和检测间的应用。

泰勒.霍普森 Surtronic S100 系列有两种型号可供选择：S116粗糙度仪是标准产品；S128则能够提供提高测量范围和分析能力。

技术参数:

数据显示 ：

显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果

数据存储：

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘'大4G，多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

技术指标：

测量范围：200 um 100 um 10 um

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

校准：

自动软件校准   标准：ISO4287

四、测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

'大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

TIME3100粗糙度仪

TIME3100功能特点

◆外形设计精致、美观，操作方便、舒适；

◆采用了两个OLED点阵显示器，具有很好的可视化效果；

◆可同时在主视及俯视两方向显示测量结果；

◆自动检测电池电压并报警；

◆具有校准功能。

TIME3100技术参数：

德国马尔小粗糙度仪M2

一.主要技术性能描述

相对误差: ≤±5%

测量原理： 指针电感触方式

测量范围： 100 um

测量速度： 0.5 mm/s

轮廓分辨率：12 nm

滤波 : 高斯(自动确定)

取样长度 : 0.25, 0.8, 2.5 mm

扫描长度按 DIN/ISO : 1.75,  5.6, 17.5 mm

取样长度数目 : 1 到 5 , 可选择

参数          : DIN/ISO : Ra, Rz, Rmax, Rq,Rp,Rt,R3z,Ry,Rk,Rvk,

              Rpk,Mr1,Rr2,Pc,Mk ,Sm,S,tp.

             : JIS : Ra, Rz

垂直方向标定 : 自动

水平方向标定 : 根据取样长度

记录 : R-轮廓， 数据输出

打印机 : 自动打印 / 内置式打印

纸宽 : 57.5 mm

计量单位 : um / uin , 可选择

显示 : LCD 显示

语言 : 中文操作界面， 10种欧洲语言和其它2种亚洲语言

带有RS232串行口,可直接与pc相连

公差和测量数据显示跟踪,输出测量日期和时间.

集成存储器能够多存储200个测量结果.

可在PCMCIA内存卡上存储无数个测量结果,轮廓和测量程序